一、产品说明:
我厂生产的UV-B型紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003-2014。采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
二、产品特点:
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示,带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口(USB,冗余供电)
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作,蜂鸣提示
三、技术参数:
1、辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2
2、相对示值误差:±8%(相对于NIM标准)
3、波长范围λ1,峰值波长λp :(230~275)nm,λP=254nm
4、波长范围λ2,峰值波长λp :(275~330)nm,λP=297nm
5、紫外带外区杂光:UV254<><0.05% ="">0.05%>
6、角度响应特性:±5% (α≤10°)
7、线性误差:±1%
8、换档误差:±1%
9、短期不稳定性:±1%(开机30min后)
10、疲劳特性:衰减量<2%>2%>
11、零值误差:满量程的±1%
12、响应时间:<1秒>1秒>
13、使用环境:温度(0~40)℃;湿度<85%RH
14、尺寸和重量:160×78×43mm;0.2kg
15、电源:6F22型9V积层电池(非充电电池)
16、整机功耗:<0.1VA